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掃描電子顯微鏡,和美日德差距明顯

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發(fā)布日期:2021-09-30

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簡(jiǎn)介:
掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品, 通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用, 來(lái)激發(fā)各種物理信息, 對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm;放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬(wàn)倍及以上連續(xù)可調(diào);并且景深大, 視野大, 成像立體效果好。此外, 掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合, 可以做到觀察微觀形貌的同時(shí)進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。因此掃描電子顯微鏡在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用。

適用專業(yè)(2)

    高職(1):

  • 關(guān)務(wù)與外貿(mào)服務(wù)
  • 展開(kāi)

    中職(1):

  • 國(guó)際貨運(yùn)代理
  • 展開(kāi)

適用課程(1)

  • 跨境電商實(shí)務(wù)
  • 展開(kāi)
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